近紅外光譜分析的常見問題
近紅外光譜分析的常見問題之一 | |
對于近紅外光譜分析技術(shù)(NIRS),無論您是新人,還是經(jīng)驗(yàn)豐富的使用人員或者僅僅感到好奇,瑞士萬通都會幫助您去了解和使用儀器,使近紅外達(dá)到非常好的使用效果。 在這個過程中,我們會解答幾個關(guān)于實(shí)驗(yàn)室近紅外光譜儀器,及分析產(chǎn)品過程的常用問題。 本文的其余部分會介紹以下主題:
? 紅外光譜和近紅外光譜的區(qū)別 近紅外范圍內(nèi)光的能量高于紅外光(圖1),它會影響與樣品中分子的相互作用。 圖1:電磁頻譜
圖2:說明近紅外光譜儀過程分析儀使用低散射光纖電纜進(jìn)行遠(yuǎn)程測量的可能性。許多采樣選項(xiàng)可用于*自動化的分析,使用戶能夠收集實(shí)時數(shù)據(jù),以便立即進(jìn)行流程調(diào)整
? 近紅外光譜是一種【間接分析技術(shù)】,是什么意思? 為了在近紅外光譜中建立預(yù)測模型,可將近紅外光譜與感興趣的參數(shù)相關(guān)聯(lián),例如,樣品中的水分含量。這些模型在日常質(zhì)量控制中可以用于分析樣品。為了建立預(yù)測模型,可以將原始參考方法的值與近紅外光譜相關(guān)聯(lián)(圖3)。因?yàn)榻t外光譜的結(jié)果取決于預(yù)測模型開發(fā)過程中這些參考值,因此近紅外光譜被認(rèn)為是一種間接分析技術(shù)。 圖3:近紅外光譜法和實(shí)驗(yàn)室方法測量相同樣品中水分含量對比圖 欲了解更多關(guān)于卡爾費(fèi)休滴定和近紅外光譜協(xié)同工作的信息,請下載我們的手冊:水含量分析-卡爾費(fèi)休滴定和近紅外光譜的協(xié)同工作。
? 什么是預(yù)測模型,需要多久創(chuàng)建/更新一次? 預(yù)測模型可以通過樣品的近紅外光譜,來確定關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù)的值,舉幾個例子:如含水量、密度或總酸值。通過將樣品近紅外光譜與參考方法的參考值相結(jié)合來建立預(yù)測模型,例如卡爾·費(fèi)休滴定法中的水含量(圖3)。 通常預(yù)測模型只創(chuàng)建一次,它是由足夠有代表性的光譜和參考化學(xué)值組成的,只有在樣品開始變化時(例如在生產(chǎn)工藝設(shè)備或參數(shù)、原材料供應(yīng)商等發(fā)生變化后)才需要更新。
? 創(chuàng)建一個預(yù)測模型,需要多少樣品 一個好的預(yù)測模型所需的樣本數(shù)量取決于樣本的復(fù)雜性和關(guān)鍵參數(shù)的分子吸收率對于一個“簡單”的模型,例如,鹵化溶劑以其水濃度作為測量參數(shù),包含10-20個光譜的樣品,涵蓋全部濃度范圍可能就足夠了。對于更復(fù)雜的應(yīng)用,我們建議使用至少40-60個光譜樣品,以建立可靠的預(yù)測模型。
? 近紅外光譜在管制和非管制行業(yè)的使用有哪些規(guī)范? 在經(jīng)過驗(yàn)證的環(huán)境中如何使用近紅外光譜系統(tǒng),相關(guān)的規(guī)范包括USP <856> 和 USP<1856>。ASTM E1655介紹了非管制環(huán)境中,如何創(chuàng)建近紅外光譜系統(tǒng)的預(yù)測模型和基本要求的一般規(guī)范。方法驗(yàn)證和儀器驗(yàn)證分別由ASTM D6122和ASTM D6299指導(dǎo)。 圖4:根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)成功開發(fā)定量方法的不同步驟 對于特定的測量,如燃料中的RON和MON分析,應(yīng)遵循ASTM D2699和ASTMD2700等標(biāo)準(zhǔn)。 更多信息請下載我們的免費(fèi)應(yīng)用說明:汽油質(zhì)量控制-用近紅外光譜法快速測定RON,MON,AKI,芳香烴含量和密度。
? 在生產(chǎn)過程中,近紅外光譜技術(shù)如何應(yīng)用? 生產(chǎn)過程中的化學(xué)分析并不是一項(xiàng)簡單的任務(wù)。樣品的黏度和易燃性等化學(xué)和物理特性會干擾分析測量。有些工業(yè)過程是相當(dāng)微妙的——即使是工藝參數(shù)很細(xì)微的變化也會導(dǎo)致終產(chǎn)品性能發(fā)生顯著變化。因此,連續(xù)測量的特性,并通過快速反饋調(diào)整工藝參數(shù),以確保產(chǎn)品的一致性和高質(zhì)量是至關(guān)重要的。 圖5:在生產(chǎn)車間的流化床干燥器中,使用近紅外光譜分析的例子。
近紅外光譜系統(tǒng)中光纖探頭的使用為過程控制開辟了新的視角。合適的紅外線探頭通過光纖連接到光譜儀,無需人工干擾過程即可直接在線和內(nèi)聯(lián)監(jiān)測。目前,有多種近紅外光學(xué)探頭可供選擇,從雙投射探頭、浸入式探頭到反射和投射探頭,適用于接觸和非接觸測量。這種多樣性使得近紅外光譜可以應(yīng)用于幾乎任何種類的樣品,包括熔體、溶液、乳劑和固體粉末。
使用近紅外光譜過程分析儀時選擇合適的探針或樣品接口是成功實(shí)現(xiàn)內(nèi)聯(lián)或在線過程監(jiān)測的關(guān)鍵。根據(jù)樣品是處于液體、固體還是氣態(tài),使用透反射或傳輸探頭測量樣品,并使用特定的配件將探頭連接到反應(yīng)器、容器或管道。瑞士萬通有超過45年的經(jīng)驗(yàn),可以為您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計非常好解決方案。 請訪問我們的網(wǎng)站,下載有關(guān)工業(yè)過程中的近紅外光譜測量的免費(fèi)應(yīng)用說明。
? 如何通過近紅外分析來優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量? 定期控制關(guān)鍵工藝參數(shù)對于符合特定產(chǎn)品和工藝規(guī)范至關(guān)重要,并可在任何行業(yè)實(shí)非常好產(chǎn)品質(zhì)量和一致性。NIRS分析儀可以每30秒提供一次數(shù)據(jù),近乎實(shí)時地監(jiān)控生產(chǎn)過程。 使用近紅外光譜(NIRS)分析儀不僅適合24小時/7天的生產(chǎn)過程監(jiān)控,而且對原材料和試劑的質(zhì)量檢測也非常有益。通過向工業(yè)控制系統(tǒng)(例如,DCS或PLC)提供«實(shí)時»數(shù)據(jù),任何過程都可以基于NIRS數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)自動化。因此,停機(jī)時間減少,避免意外情況,并保護(hù)昂貴的公司資產(chǎn)。 圖6:NIRS XDS過程分析儀,顯示多路復(fù)用選項(xiàng),多達(dá)9個測量通道。這里,連接了微束(黃色)和單光纖(藍(lán)色)光纜,配置了反射探頭和透射光纖探頭。
此外,Metrohm過程分析中近紅外光譜儀有一個內(nèi)置化學(xué)計量軟件包,即使產(chǎn)品仍在生產(chǎn)中,也允許對產(chǎn)品進(jìn)行鑒定。然后生成一個可以直接由QC經(jīng)理使用的報告。因此,提高了產(chǎn)品質(zhì)量的一致性,從而帶來潛在的額外收入。 |
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